半导体器件的ESD测试带电器件模型（CDM）及静电敏感度分级

2018年8月22日 — 元件充電模式(CDM)的靜電放電(ESD)被視為象徵ESD充電和快速放電的首要 ... 它指出了採用一致方法為整個電子產業測試CDM的必要，並應排除多種測試 ...

2023年3月9日 — 一种是电场测试。 图二.不同CDM测试方法，A.直接接触测试，B.电场充放电测试。 直接接触测试就是将探针直接与芯片引脚或者衬底接触，提高探针的电势 ...

http://esd.iclab.cn. ESD 模型及有关测试. 1 、 ESD 模型分类. 2 、 HBM 和MM 测试方法标准. 3 、 CDM 模型和测试方法标准. 4 、 EIC 模型和测试方法标准. 5 、 TLP 及其 ...

HBM：是靜電放電防護模擬測試中最常見的項目。HBM是模擬帶有靜電的人體碰觸到電子元件時，在非常短的時間內產生瞬間放電電流。對於常用2KV的ESD放電電壓而言，其瞬間放電 ...

2022年11月26日 — 带电器件模型（Charged-Device Model - CDM）是第三种重要的元器件静电放电耐受阈值的测试方法。CDM 模型与之前讨论的HBM、 MM模型完全不同。HBM和MM模型 ...

2022年2月15日 — 分為人體放電模式(Human-Body Model, HBM)、機器放電模式(Machine Model, MM)、元件充電模式(Charged-Device Model, CDM)。 ESD測試. 圖一:ESD各模式的 ...

3.1.5 CDM的靜電放電測試. 由於元件充電模式(CDM)的靜電放電機制與前述的. HBM及MM 放電機制不同，因此CDM的靜電放電測試如. 圖3.1-5所示。首先，靜電電壓被充入該積體電路 ...

這些測試流程主要是針對兩種ESD 事件模式：人體模型（HBM）和帶. 電器件模型（CDM）。這些模型用於執行組件測試，無法含括所有可能的ESD 事件，且. 現場和測試系統間的放電 ...

充電放電測試(CDM，Charged Device Model)：此模式是指晶片先因磨擦或其他因素而在內部累積了靜電，但在靜電累積的過程中並未被損傷。當此帶有靜電的晶片在使用時，其pin腳 ...